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P1K0.202.3FW._.007- 带扁平线、具有优化静电放电(ESD)设计

P1K0.202.3FW.A.007
薄膜铂,静电放电优化,带7毫米镀金镍扁平线的1000Ω电阻温度检测器(RTD)组件
芯片尺寸/规格:2.0×2.0×1.3毫米
公差/等级:IEC 60751 F0.15(IST AG精度等级A)
产品代码: 155751

P1K0.202.3FW.B.007
薄膜铂,静电放电优化,带7毫米镀金镍扁平线的1000Ω RTD组件
芯片尺寸/规格:2.0×2.0×1.3毫米
公差/等级:IEC 60751 F0.3(IST AG精度等级B)
产品代码: 155041

P1K0.202.3FW.C.007
薄膜铂,静电放电优化,带7毫米镀金镍扁平线的1000Ω电阻温度检测器(RTD)组件
芯片尺寸/规格:2.0×2.0×1.3毫米
公差/等级:IEC 60751 F0.6(IST公差等级C)
产品代码: 154735

   库存量:99999

P1K0.202.3FW.A.007
薄膜铂,静电放电优化,带7毫米镀金镍扁平线的1000Ω电阻温度检测器(RTD)组件
芯片尺寸/规格:2.0×2.0×1.3毫米
公差/等级:IEC 60751 F0.15(IST AG精度等级A)
产品代码: 155751

P1K0.202.3FW.B.007
薄膜铂,静电放电优化,带7毫米镀金镍扁平线的1000Ω RTD组件
芯片尺寸/规格:2.0×2.0×1.3毫米
公差/等级:IEC 60751 F0.3(IST AG精度等级B)
产品代码: 155041

P1K0.202.3FW.C.007
薄膜铂,静电放电优化,带7毫米镀金镍扁平线的1000Ω电阻温度检测器(RTD)组件
芯片尺寸/规格:2.0×2.0×1.3毫米
公差/等级:IEC 60751 F0.6(IST公差等级C)
产品代码: 154735

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