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P1K0.202.3W._.010 - 带镍/金线、具有优化静电放电(ESD)设计

P1K0.202.3W.A.010
薄膜铂,静电放电优化,带10毫米镍/金线的1000Ω电阻温度检测器(RTD)组件
芯片尺寸/规格:1.8×2.0×1.1毫米
公差/等级:IEC 60751 F0.15(IST AG精度等级A)
产品代码: 155750

P1K0.202.3W.B.010
带10毫米镍/金线的薄膜铂1000Ω电阻温度检测器(RTD)组件,静电放电优化
芯片尺寸/规格:1.8×2.0×1.1毫米
公差/等级:IEC 60751 F0.3(IST AG精度等级B)
产品代码: 155528

   库存量:99999

P1K0.202.3W.A.010
薄膜铂,静电放电优化,带10毫米镍/金线的1000Ω电阻温度检测器(RTD)组件
芯片尺寸/规格:1.8×2.0×1.1毫米
公差/等级:IEC 60751 F0.15(IST AG精度等级A)
产品代码: 155750

P1K0.202.3W.B.010
带10毫米镍/金线的薄膜铂1000Ω电阻温度检测器(RTD)组件,静电放电优化
芯片尺寸/规格:1.8×2.0×1.1毫米
公差/等级:IEC 60751 F0.3(IST AG精度等级B)
产品代码: 155528

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